หน้าจอสัมผัสเครื่องวิเคราะห์ฮอร์นอัลตราโซนิกสําหรับการทดสอบเซรามิก Ptz
หน้าจอสัมผัสเครื่องวิเคราะห์แตรล้ําสําหรับการทดสอบเซรามิกptz
การบรรยาย:
สําหรับเครื่องมือวัดส่วนประกอบอัลตราโซนิกที่สําคัญที่สุดคือแผนภูมิการยอมรับกราฟลอการิทึมของกราฟิกทั้งสอง (กราฟิกทั้งสองเป็นวิธีหลักของคุณสมบัติที่มีคุณภาพ) และพารามิเตอร์มากกว่าหนึ่งโหล: ความถี่เรโซแนนซ์ Fs, การนําสูงสุด Gmax, แบนด์วิดท์ F2-F1, Fp ความถี่ป้องกันเรโซแนนซ์, ปัจจัยคุณภาพ Qm, ความจุฟรี CT, ความต้านทานแบบไดนามิก R1, เหนี่ยวนําแบบไดนามิก L1 ความจุแบบไดนามิก C1 ความจุแบบคงที่ C0 ค่าสัมประสิทธิ์การมีเพศสัมพันธ์ทางไฟฟ้าที่มีประสิทธิภาพ Keff
เครื่องมือวัดที่สามารถแทนที่เครื่องมือที่ซับซ้อนและซับซ้อนมากขึ้นได้อย่างง่ายดายรวมถึงเครื่องมือที่มีราคาแพงกว่าหลายเท่าจาก Agilent / HP เช่น: เครื่องวิเคราะห์เฟส HP Impedance Gain-Phase 4294A, Agilent E5100A, เครื่องวิเคราะห์เครือข่าย, HP 3563A, เครื่องวิเคราะห์ระบบควบคุม เป็นต้น นอกจากนี้ยังใช้งานง่าย HS520A (โดยวิศวกรหรือคนงานผลิตทั่วไป)
สเปค:
| วัดสินค้า | ความถี่เรโซแนนซ์: Fs |
| ครึ่งความถี่พลังงาน: f1และf2 | |
| การยอมรับที่แท้จริงสูงสุดที่ Fs: Gmax | |
| ความต้านทานแบบไดนามิก: R1 | |
| ความถี่ป้องกันเรโซแนนซ์: Fp | |
| ปัจจัยคุณภาพเชิงกล: Qm | |
| ความจุฟรี: CT | |
| เหนี่ยวนําแบบไดนามิก: l1 | |
| ความจุแบบไดนามิก: C1 | |
| ความจุคงที่: ร่วม | |
| ค่าสัมประสิทธิ์การมีเพศสัมพันธ์ด้วยไฟฟ้า: Keff และ Kp | |
| ความต้านทานที่แท้จริงสูงสุดที่ Fp: Zmax | |
| ไดอะแกรมหน่วยวัด | G,B-F |
| G-B (พิกัดวงกลมการยอมรับ) | |
| R,X-F | |
| R-X (พิกัดวงกลมอิมพีแรนซ์) | |
| Z,เฟส- ฉ | |
| Y,เฟส- ฉ | |
| Z (ลอการิทธิม), phase-F | |
ขนาดของหน้าจอ LCD: หน้าจอ 8 นิ้ว | |


การประชุมเชิงปฏิบัติการโรงงาน:

บรรจุ:

การจัดส่งสินค้าและการชําระเงิน:

ป้ายกำกับยอดนิยม: หน้าจอสัมผัสเครื่องวิเคราะห์แตรล้ําสําหรับการทดสอบเซรามิกptz, ประเทศจีน, ผู้ผลิต, ซัพพลายเออร์, โรงงาน
คุณอาจชอบ
ส่งคำถาม












